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太陽能光伏質量檢測儀器 >> 電池片質量檢測儀器 >> PL光致發光測試系統：NIR-PLuS-B

產品介紹：

NIR-PLUS/B檢測系統是一款光伏檢測的綜合分析系統，既采用紅外技術對裂紋，孔洞，微結晶，雜質和其他硬質點等進行檢測，又使用PL（光致發光）技術對雜質及缺陷分布進行檢測，對造成少子壽命降低的原因進行系統的分析。是減低生產成本，提高產品品質，促使公司競爭力革命性增長的必不可少的檢測設備。

產品特點：

■ PL(光致發光)和紅外技術綜合分析，并具有3D模塊

■ 采用銦鎵砷傳感器，而非一般廠家采用固定值的模擬攝像管

具有硬件圖像校正和計算機參數控制的功能，其靈敏度好，檢測結果與實際情況一致性佳

■ 軟件系統為不同產品表面情況及尺寸提供設置菜單，無需硬件上進行設置，方便應用

■ 不僅可以探測標準尺寸的硅塊與硅片，而且可以檢測無規則尺寸的樣品

■ 可直接對單晶，多晶，非晶，化合物等各類型光伏電池進行直接檢測

■ 可應用到電池生產中的各工藝檢測，對硅塊、硅片、絨面、擴散、刻蝕、PECVD、電極印刷、燒結、電池片等各工藝進行檢測分析

■ 紅外高像素相機，高分辨；得到更多波段的信息，更真實

■ 線形光源，掃描方式收集圖像，避免常規照相的光學變形

■ 可輕易獲得單位面積上的高強度并可輕易達7suns亮度，比常規1sun具有更高的敏感度，更經濟更安全

■ 無需對線光源遮光，避免了對比度下降，信號更真實

■ 高像素紅外照相機3年免費保修或更換的承諾

■ 所有的部件的設計都達到了長期高強度使用及最小維護量的要求

■ 即使在高照明的條件下，我們的相機傳感器也幾乎沒有退化的情況

■ 有多年在歐洲生產銷售應用的經驗，產品具有優良的工業應用性

技術指標：

■ 設備尺寸： 1000mm[H]×1100mm[W]×800mm[D] +控制PC

■ 設備重量： 166公斤

■ 樣品尺寸： 210mm*210mm*450mm（硅塊）

210*210（硅片，可根據客戶要求拓展）

■ 檢測方式：離線IR+PL檢測；一鍵式4面檢測

■ 檢測時間： 20秒（IR）；10-30秒（PL，根據樣品大小決定）

■ 成像系統：銦鎵砷紅外相機，溫控，積分控制，亮度/對比度/伽瑪，感光度范圍控制

■ 分辨率： 1024 x 2304像素（12/14bit）

■ 檢測波長： 900nm-1700nm

■ 激光控制：電腦控制電源，最大50A

■ 校正方式：標準樣片校準

■ 激光系統：具用互鎖功能的一級高功率近紅外激光系統

警示燈，報警軟件聯鎖功能

閉路水冷溫控系統，滿功率系統溫度穩定

■ 儀器控制：接口 - 嵌入式硬件控制，USB控制靈活運用

數據格式 - “BMP”原始圖像+鏈接

測量信息的文件，資料，導出為“CSV”格式

■ 符合標準： CE，RoHs

部分公開客戶名單：

Silicio Solar - Spain

Pillar JSC - Ukraine

Q-Cell- Germany

PV Crystalox - England

DC Wafers - Spain

Lux s.r.l. – Italy

……

部分實列檢測結果

PL檢測可以輕易的檢測到黑心黑邊片，PL的優勢是全程檢測，檢測速度快，為生產節省時間和成本，提高產品品質。

通過IR和PL的共同分析，可以精確劃分硅塊的頭尾線。

(1) PL結果與uPCD少子壽命結果對比，通過擬合兩者間匹配度達98.65%
(2) PL圖像能夠直觀和準確的反應出樣品表面的問題，而uPCD不能實現
(3) PL像素可分辨0.175mm2，而uPCD僅可分辨1 mm2

通過PL系統分析，可精確定位到diffusion這一步有問題，diffusion厚度不均，滾輪damage等；后續的工藝乃至最后的電池片結果說明，厚度不均的問題在之后的環節對wafer進行了優化，最后不會明顯減低cell效率，而滾輪的damage影響到之后所有的環節，并最終影響到cell效率。

如需更多內容，請聯系合能陽光，或聯系進行樣品PL檢測！